探針臺(tái)探針與樣品的接觸方式根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景及設(shè)備類型的不同，主要可分為以下幾種形式：

機(jī)械定位接觸式通過X/Y/Z軸旋鈕或移動(dòng)手柄手動(dòng)調(diào)節(jié)探針座位置，逐步將探針*端移動(dòng)至待測(cè)點(diǎn)上方，再通過Z軸下壓完成接觸。此方式需結(jié)合顯微鏡觀察，確保探針與樣品表面精準(zhǔn)對(duì)齊。在顯微鏡低倍物鏡下定位樣品后，切換高倍物鏡微調(diào)待測(cè)點(diǎn)位置，再通過探針座三軸微調(diào)旋鈕實(shí)現(xiàn)接觸。利用機(jī)械手控制探針臂的移動(dòng)，將探針*端**定位至半導(dǎo)體器件的Pad或晶圓測(cè)試點(diǎn)，通過壓板下降建立電氣連接。

真空吸附固定式樣品通過真空卡盤吸附固定，確保測(cè)試過程中無位移；探針通過獨(dú)立模塊化設(shè)計(jì)靈活調(diào)整位置，適配不同形狀/尺寸的樣品。大電流測(cè)試中，樣品需清潔后置于真空卡盤，開啟真空閥確保吸附穩(wěn)定，再通過探針座微調(diào)接觸壓力。

自動(dòng)化控制接觸式射頻探針臺(tái)通過計(jì)算機(jī)控制探針運(yùn)動(dòng)，結(jié)合同軸電纜連接測(cè)試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)射頻參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)量。批量測(cè)試時(shí)，完成一個(gè)器件后升起壓板，移動(dòng)載物臺(tái)至下一器件重復(fù)定位流程。

分步微調(diào)驗(yàn)證接觸探針*端接近樣品后，通過X軸左右滑動(dòng)觀察表面劃痕或測(cè)試設(shè)備反饋信號(hào)，驗(yàn)證是否建立有效接觸。需緩慢操作，避免探針壓力過大損壞樣品或針尖鈍化。

特殊模式擴(kuò)展部分探針臺(tái)支持切換真空/氣氛環(huán)境測(cè)試，通過模塊化設(shè)計(jì)快速拆卸探針底座，擴(kuò)展樣品腔空間或切換功能。探針與樣品的接觸核心在于精準(zhǔn)定位與穩(wěn)定控制，需結(jié)合設(shè)備類型、樣品特性及測(cè)試需求選擇適配方法。操作中需遵循分步微調(diào)、壓力驗(yàn)證等規(guī)范，以保障測(cè)試精度與設(shè)備壽命。